介質(zhì)損耗測(cè)試儀報(bào)價(jià)是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測(cè)試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?/span>45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀報(bào)價(jià)特點(diǎn)：

超大液晶中文顯示

儀器配備了大屏幕（105mm×65mm）中文菜單界面，屏顯分為左右兩部分，左邊為功能菜單區(qū)，右邊為相關(guān)狀態(tài)信息提示，每一步都非常清楚，操作人員不需要專業(yè)培訓(xùn)就能使用。一次操作，微機(jī)自動(dòng)完成全過程的測(cè)量，是目前非常理想的介損測(cè)量設(shè)備。

海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器，能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存，隨時(shí)可以查看歷史記錄，并可以打印輸出；

科學(xué)*數(shù)據(jù)管理

儀器數(shù)據(jù)可以通過U盤導(dǎo)出，可在任意一臺(tái)PC機(jī)上通過我公司軟件，查看和管理數(shù)據(jù)并可生成工作報(bào)告。

多種測(cè)試模式

儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。

多重保護(hù)安全可靠

儀器具備輸入電壓波動(dòng)、輸出短路、過壓、過流、溫度等多重保護(hù)措施，保證了儀器安全、可靠。儀器還具備接地檢測(cè)功能，確保不接地設(shè)備不允許升壓。

工作原理

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。

主要技術(shù)參數(shù)